|
|
|
توصیف نانوکریستال ها- با استفاده از الیپسومتری طیف نما
1. مقدمهاولین کاربرد الیپسومتری برای اندازه گیری پوشش های نازک پلی- و نانوکریستال به دهه ها پیش بر می گردد. مهمترین گام در مسیر تحقیقات الیپسومتری پوشش های نازک کامپوزیت، شناخت اولین الیپسومتری طیف نما در دهه 70 بوده است [3, 4, 8]، که امکان اندازه گیری نقش دی الکتریک را امکان پذیر ساخت، که جزء انگاری آن مستقیما در ارتباط با حساسیت وضعیت چگالی مشترک الکترونیک بوده که بستگی به تغییرات ساختار کریستال دارد. اولین مدل ها بر مبنای روش میانگین موثر با استفاده از عوامل سارنده توابع دی الکتریک [5] بوده، درحالیکه بخش حجیمی از موئلفه ها در ارتباط با ویژگی های کریستال با پوشش نازک می باشند. این روش بر مبنای نیرومندی اش، محبوب می باشد.
:: برچسب‌ها:
نانوکریستال ,
الیپسومتری طیف نما ,
الیپسومتری ,
وضعیت چگالی ,
مقاله انگلیسی فیزیک با ترجمه فارسی ,
مقاله انگلیسی فیزیک با ترجمه ,
مقاله انگلیسی فیزیک ,
Characterization ,
Nanocrystals ,
Spectroscopic Ellipsometry ,
:: بازدید از این مطلب : 176
|
امتیاز مطلب : 0
|
تعداد امتیازدهندگان : 0
|
مجموع امتیاز : 0
تاریخ انتشار : شنبه 15 خرداد 1395 |
نظرات ()
|
|
|
|
|
عضو شوید
عضویت سریع
آمار مطالب
آمار بازدید
